透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM)和高分辨透射電子顯微鏡(High-Resolution Transmission Electron Microscope, 簡稱HRTEM)都是基于透射電子束原理的顯微成像技術，但它們在分辨率、操作方式、應用領域等方面存在顯著差異。

　　(一)分辨率

　　1. 透射電鏡(TEM)：透射電鏡的分辨率通常在0.2納米左右，這意味著它能夠分辨出大約0.2納米的細節;這種分辨率對于觀察細胞器、病毒、大分子等生物樣品以及金屬、陶瓷等材料的大致結構已經足夠。

　　2. 高分辨透射電鏡(HRTEM)：高分辨透射電鏡的分辨率可以達到0.1納米甚至更高，這使得它能夠分辨出原子級別的細節;HRTEM能夠直接觀察到晶體中的原子排列和缺陷，這對于材料科學和固體物理學的研究至關重要。

　　(二)成像原理

　　1. 透射電鏡(TEM)：TEM的成像原理是利用透射電子束穿過樣品，然后通過電磁透鏡系統放大電子束形成的圖像;成像模式包括明場成像、暗場成像和衍射成像等，這些模式可以提供樣品的形貌、結構和大致成分信息。

　　2. 高分辨透射電鏡(HRTEM)：HRTEM的成像原理與TEM類似，但它采用了更高級的成像技術，如相襯成像和球差校正等，以實現更高的分辨率;相襯成像利用電子波與樣品相互作用產生的相位變化來增強圖像對比度，而球差校正技術則減少了透鏡的球差，提高了圖像質量。

　　(三)操作要求

　　1. 透射電鏡(TEM)：TEM的操作相對簡單，對樣品的要求不如HRTEM嚴格;TEM可以在較低的加速電壓下工作，對樣品的厚度要求也較為寬松。

　　2. 高分辨透射電鏡(HRTEM)：HRTEM的操作要求更為苛刻，為了達到高分辨率，需要使用非常薄的樣品(通常在幾十納米以下)，并且需要在非常穩定的環境下操作;此外，HRTEM通常需要更高的加速電壓和更精確的對中調整。

　　(四)應用領域

　　1. 透射電鏡(TEM)：TEM廣泛應用于材料科學、生物學、醫學等領域;它可以用于觀察樣品的形貌、晶體結構、位錯、晶界等，以及進行成分分析。

　　2. 高分辨透射電鏡(HRTEM)：HRTEM主要用于材料科學和固體物理學領域，特別是在研究納米材料和先進材料的原子結構方面;HRTEM可以直接觀察到晶體缺陷、界面結構、原子排列等，對于理解材料的物理性質和化學行為具有重要意義。

　　(五)技術特點

　　1. 透射電鏡(TEM)：成像速度快，操作簡便;適用于較厚的樣品;成本相對較低，普及度高。

　　2. 高分辨透射電鏡(HRTEM);成像分辨率高，能夠觀察到原子級別的細節;需要非常薄的樣品和高穩定性的操作環境;成本高昂，維護和操作要求專業。

　　(六)數據分析

　　1. 透射電鏡(TEM)：TEM的數據分析通常較為簡單，可以通過圖像處理軟件進行基本的形貌分析和尺寸測量。

　　2. 高分辨透射電鏡(HRTEM)：HRTEM的數據分析更為復雜，需要對圖像進行傅里葉變換、逆傅里葉變換等高級處理，以提取晶體結構和原子排列信息。

　　(七)挑戰與限制

　　1. 透射電鏡(TEM)：分辨率限制，無法觀察到原子級別的細節;對樣品的厚度和均勻性有一定要求。

　　2. 高分辨透射電鏡(HRTEM)：操作難度大，需要高度專業化的操作人員;樣品制備要求高，需要制備非常薄的樣品;設備成本和維護費用昂貴。