1. 大透射電子顯微鏡

　　常規瞬變電磁法一般采用80-300kV的電子束加速電壓，不同的模型對應不同的電子束加速電壓。其分辨率與電子束加速電壓有關，最高可達0.2 ~ 0.1nm。高端機型可以實現原子分辨率。

　　2. 低壓透射電子顯微鏡

　　LVEM所使用的電子束加速電壓(5kV)遠低于LVEM。較低的加速電壓可以增強電子束與樣品之間的相互作用強度，從而提高圖像的對比度和對比度，尤其適用于聚合物和生物樣品。同時，低壓透射電子顯微鏡對試樣的損傷較小。較大的電子顯微鏡的分辨率很低，只有1-2nm。由于電壓低，可以將TEM、SEM和SEM集成在一個器件中。

　　3.冷凍電鏡

　　冷凍電鏡(Cryo-electron microscopy，簡稱Cryo-electron microscopy)是在普通透射電子顯微鏡中加入樣品冷凍裝置，將樣品冷卻到液氮溫度(77K)，用于觀察蛋白質、生物切片等溫度敏感樣品。通過冷凍樣品，可以減少電子束對樣品的損傷，減少樣品的變形，得到更真實的樣品形貌。