透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)是一種利用電子束穿透樣品并形成放大圖像的顯微鏡。其工作原理基于電子束與樣品相互作用產生信號，這些信號被檢測器接收并轉換成圖像。

　　1. 電子槍產生高能電子束：透射電鏡使用一個電子槍來產生一束高能電子，通常電子束的加速電壓在幾十到幾百千伏特之間。

　　2. 聚焦系統：電子束通過一系列電磁透鏡進行聚焦，形成非常細小的電子束斑，這個束斑的尺寸決定了顯微鏡的分辨率。

　　3. 樣品室和樣品：電子束穿過樣品室中的樣品。樣品需要非常薄，通常在納米到亞微米級別，以便電子可以穿透。

　　4. 信號產生：電子與樣品相互作用，可能發生彈性散射(透射電子)或非彈性散射(如產生二次電子、衍射、吸收等)。透射電子攜帶了樣品的結構信息。

　　5. 成像系統：透射電子或二次電子被成像系統接收，成像系統通常包括投影鏡和熒光屏或電荷耦合器件(CCD)相機，用于記錄電子信號的強度分布。

　　6. 圖像觀察與記錄：形成的圖像可以在熒光屏上實時觀察，也可以通過CCD相機記錄下來并在計算機上分析。

　　總結：透射電鏡通過聚焦電子束穿透超薄樣品，利用電子與樣品的相互作用產生信號，通過成像系統放大并記錄這些信號，從而獲得高分辨率的樣品內部結構圖像。