透射電鏡基本原理：

　　透射電鏡(Transmission electron microscope, TEM)是采用波長更短的電子束作照明源，電磁透鏡做成像透鏡的一類高分辨分析儀器。

　　燈絲經(jīng)加熱后發(fā)射電子束，該電子束經(jīng)柵極匯聚和陽極加速后作為透射電鏡的照明源，再經(jīng)過聚光鏡的進(jìn)一步匯聚照射在樣品上，透過樣品的電子束就帶有樣品的結(jié)構(gòu)信息，經(jīng)過物鏡、第一中間鏡、第二中間鏡、投影鏡的多級(jí)放大最后在熒光屏上呈現(xiàn)出樣品超微結(jié)構(gòu)的圖像來。透射電鏡放大倍數(shù)是各級(jí)成像透鏡放大倍數(shù)的乘積，可達(dá)上百萬倍，具有分辨原子尺度的能力，目前z先進(jìn)的透射電鏡分辨率已達(dá)0.05nm。

　　由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標(biāo)本須制成厚度<100nm的超薄切片才能在電鏡下觀察，對(duì)于生物醫(yī)學(xué)樣品需要專門的超薄切片機(jī)來完成樣品制備。