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如何在掃描電鏡中進行低溫樣品成像

更新時間:2024-10-29 點擊次數:0 所屬欄目:行業信息

  在掃描電鏡(SEM)中進行低溫樣品成像(也稱為冷凍SEM或Cryo-SEM)可以有效保留樣品的原始結構和水分狀態,尤其適用于生物樣品、聚合物和其他對溫度敏感的材料。

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  1. 樣品制備

  快速冷凍

  高壓冷凍:使用高壓冷凍儀將樣品迅速冷凍至液氮溫度(-196°C)以下,以防止冰晶形成。

  浸入冷凍:將樣品快速浸入液氮或液氦中冷凍。

  樣品固定

  固定樣品:將冷凍的樣品固定在冷凍樣品架上,確保樣品與樣品架緊密接觸,減少熱傳導。

  樣品處理(可選)

  冷凍斷裂:對于需要觀察內部結構的樣品,可以進行冷凍斷裂處理。在冷凍狀態下將樣品劈開,暴露出內部結構。

  冷凍替換:用有機溶劑(如丙酮或甲醇)替換樣品中的水分,然后冷凍干燥。這種方法可以減少冰晶形成,適合某些特殊樣品。

  2. 低溫轉移

  冷凍轉移系統

  使用冷凍轉移系統:將冷凍樣品從冷凍裝置轉移到SEM的冷凍樣品室中。冷凍轉移系統通常包括冷凍樣品盒和冷凍轉移桿,確保樣品在低溫環境下轉移,避免升溫和冰晶形成。

  3. 冷凍SEM系統設置

  安裝冷凍樣品室

  冷凍樣品室:安裝冷凍樣品室或冷凍臺在SEM中,確保樣品在低溫條件下成像。冷凍樣品室通常帶有冷卻裝置,可以保持樣品在低溫環境中。

  低溫成像設置

  溫度控制:在SEM控制面板中設置冷凍樣品室的溫度,通常在-150°C到-190°C之間。確保樣品在整個成像過程中保持低溫。

  真空度控制:調整SEM樣品室的真空度,適應低溫環境下的樣品觀測。

  4. 成像和數據采集

  低加速電壓和低束流

  低加速電壓:使用低加速電壓(通常在1-5 kV之間)減少電子束對冷凍樣品的損傷。

  低束流強度:減少束流強度,避免高能電子束對樣品的加熱和損傷。

  實時監控

  實時監控:在成像過程中實時監控樣品溫度和真空度,確保樣品始終處于低溫狀態。

  成像和數據采集

  高分辨率成像:在低溫條件下進行高分辨率成像,獲取樣品的詳細結構信息。

  圖像保存:保存和記錄成像數據,確保數據的完整性和可靠性。

  5. 后處理和維護

  樣品后處理

  樣品儲存:完成成像后,將樣品儲存在低溫環境中,防止升溫和結構變化。

  樣品處理:根據實驗需要,對樣品進行進一步處理或分析。

  設備維護

  定期檢查:定期檢查和維護冷凍SEM系統,包括冷凍樣品室、冷卻裝置和真空系統,確保設備正常運行。

  清潔設備:定期清潔冷凍樣品室和樣品轉移系統,防止污染和損壞。

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